IP防護等級試具模塊制造商根據(jù)所用存儲器芯片的特性將SPD中的定時信息寫入EEPROM并寫入EEPROM。主要目的是協(xié)助北橋芯片精確調(diào)整存儲器的物理/時序參數(shù)，以達到佳使用效果。如果BIOS設置選項在BIOS中設置為“By SPD”。然后，在通電時，北橋?qū)⒏鶕?jù)SPD中的參數(shù)信息自動配置相應的存儲器定時和控制寄存器，以避免由校準錯誤引起的人為錯誤。當然，對于DIYer，定時和控制參數(shù)也可以自由調(diào)整（物理參數(shù)仍然由SPD或北橋自測確定）。、

自動化測試治具從自動化程序上分：1、手動測試，一般為夾鎖治具，直接用探針把輸入輸出引出來;2、半自動測試，一般為氣動及MCU，可以設備自身做一些探制及量測3、全自動測試，在測試過程中不要任何人工參與的功能測試。

IP防護等級試具中的test mode是為了更方便的測試芯片，畢竟datasheet里面定義的普通功能很少，用來測試芯片有很大的局限性，效率也比較低。 test mode屬于密資料，不會開放給用戶看的，里面涉及到的一些command和spec 都是只有公司內(nèi)部有關(guān)的人才可以看。test mode會測各個電路模塊的功能是否正常，某個signal在工作中的電壓是否滿足spec， design的bug 很多是在這個時候抓到的。

在ATE，更復雜、更密集的電路，以及與系統(tǒng)內(nèi)部或外部的其他設備，包括與系統(tǒng)前后部分的交互，需要同時進行多個測試。 雖然這看起來像是一個工廠測試問題，但它也是一個面向測試的設計挑戰(zhàn)。 如果一個設計團隊沒有預先做到這一點，生產(chǎn)階段測試可能會出錯，導致低產(chǎn)量，性能差的芯片，更糟糕的是，芯片壽命太短會帶來嚴重影響。利用ATE測試座就是一個很好的ATE測試方案。 召回汽車的成本遠遠大于在車輛出廠前解決問題的成本。