開(kāi)關(guān)面板插頭插座溫升試驗(yàn)?zāi)康?/h3>



產(chǎn)品工作時(shí)可被接觸到的部分，如果溫度過(guò)高可能會(huì)造成人身傷害；而且設(shè)備內(nèi)部過(guò)高的溫度也會(huì)影響產(chǎn)品性能，甚至導(dǎo)致絕緣等級(jí)下降或者增加產(chǎn)品機(jī)械的不穩(wěn)定性。因此為了保證產(chǎn)品能夠安全穩(wěn)定工作，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行溫升測(cè)試是非常有必要的。

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一、溫升試驗(yàn)?zāi)康?/span>

溫升試驗(yàn)是電子電器產(chǎn)品安全性能的重要試驗(yàn)之一，用來(lái)評(píng)價(jià)電氣產(chǎn)品的質(zhì)量和電氣安全特性。電氣產(chǎn)品在正常使用時(shí)，由于一些通過(guò)大電流元件的發(fā)熱，導(dǎo)致自身的溫升過(guò)高，長(zhǎng)時(shí)間這種狀態(tài)下工作，可能降低絕緣材料性能，從而導(dǎo)致設(shè)備電擊、燙傷或著火危險(xiǎn)。溫升試驗(yàn)就是用來(lái)檢測(cè)和規(guī)避這些危險(xiǎn)的重要方式。

二、溫升試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

1. 連接器件

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 13140.1、GB/T34989、IEC 60998-1、IEC61984、EN 60998-1、EN 61984、AS/NZS 60998.1、UL 1977、UL 2238、UL 1059

2. 插頭插座測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 2099.1、IEC 60884-1、AS/NZS 60884.1、DIN VDE 0620-1、BS 1363-1、UL 498、UL 1363

3. 器具耦合器測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 17465.1、IEC 60320-1、EN 60320-1、AS/NZS 60320.1、UL 60320

上一個(gè)：

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