推力試驗(yàn)探針

產(chǎn)品概述：

     推力試驗(yàn)探針?lè)螱B2099.1標(biāo)準(zhǔn)中的圖9及圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，

    20N推力探針主要用于檢驗(yàn)保護(hù)門(mén)內(nèi)的帶電部件是否被觸及，

    1N推力探針主要用于檢驗(yàn)保護(hù)門(mén)內(nèi)的帶電部件及有加強(qiáng)保護(hù)插座的帶電部件是否被觸及。

推力試驗(yàn)探針技術(shù)參數(shù) ：

         20N推力試驗(yàn)探針JAY-I20：探針部分3+0.03 0×1+0.015 0 ×80±0.5，端部倒圓R0.2±0.05，20N推力;

        1N推力試驗(yàn)探針JAY-I20T：探針部分Φ1+0.015 0 ×80±0.5，端部倒圓R0.05，1N推力

推力試驗(yàn)探針使用方法：

         將探針端部接觸試樣，然后施力20N（1N），當(dāng)探針凸出端A-A面與B-B面平齊即可。