電子產(chǎn)品跌落測(cè)試(試驗(yàn))標(biāo)準(zhǔn)是什么

跌落試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的參考方法主要是來(lái)源包裝和運(yùn)輸包裝的基本試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。電子產(chǎn)品的跌落試驗(yàn)是在電子產(chǎn)品包裝后模擬不同的邊緣，角，當(dāng)表面和不同高度墜落在地面時(shí)，了解產(chǎn)品損壞情況，評(píng)估產(chǎn)品包裝組件墜落時(shí)能承受的墮落高度和抗沖擊強(qiáng)度，根據(jù)產(chǎn)品實(shí)際情況和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)范圍進(jìn)行改進(jìn)，完善包裝設(shè)計(jì)，80%的電子產(chǎn)品損壞大多來(lái)自墜落碰撞。研發(fā)人員經(jīng)?；ㄙM(fèi)大量的時(shí)間和成本對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行相關(guān)的質(zhì)量測(cè)試，最常見(jiàn)的是墜落測(cè)試。

跌落測(cè)試方法：

墜落高度主要以產(chǎn)品重量和可能的墜落概率為參考標(biāo)準(zhǔn)，墜落表面應(yīng)為混凝土或鋼制的光滑，剛性表面堅(jiān)硬(如有特殊要求，應(yīng)由產(chǎn)品規(guī)格或客戶(hù)測(cè)試規(guī)范決定)。

對(duì)于不同的國(guó)際規(guī)范，即使產(chǎn)品重量相同，也會(huì)有不同的下降高度。對(duì)于手持產(chǎn)品(如手機(jī)，MP3等)大部分掉落高度大多介于100cm~150cm不等，IEC對(duì)于≦2kg手持產(chǎn)品建議1000cm墜落高度不能損壞，MIL建議墜落高度為1222cm，Intel對(duì)于手持產(chǎn)品(如手機(jī))，建議降低高度為1500cm。測(cè)試的嚴(yán)格程度取決于跌落高度.跌落次數(shù).跌落方向。對(duì)于跌落實(shí)驗(yàn)國(guó)家有專(zhuān)門(mén)的標(biāo)準(zhǔn)，跌落方式是一角，三邊，六面自由落體，跌落高度取決于產(chǎn)品重量。分為2250px.1900px.1625px幾個(gè)等級(jí)。

1.自由跌落

目的：確定產(chǎn)品在搬運(yùn)過(guò)程中因粗裝卸而墜落的適應(yīng)性，或確定安全要求*低牢固度。本試驗(yàn)主要用于非包裝試驗(yàn)樣品，其包裝可作為運(yùn)輸箱試驗(yàn)樣品的一部分。

2.重復(fù)自由跌落

目的：確定連接器、小型遙控裝置等可能頻繁跌落到硬表面的元件裝置，以承受反復(fù)跌落的適應(yīng)性。

跌落試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):

GB/T4857.1-2019包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)第一部分：試驗(yàn)時(shí)各部位的標(biāo)注方法；

GB/T4857.2-2005包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)第二部分：溫濕度調(diào)節(jié)處理；

GB/T4857.5-1992包裝 運(yùn)輸包裝件 跌落試驗(yàn)方法；

GB/T4857.17-2017包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)第17部分：編制性能試驗(yàn)大綱一般規(guī)則；

跌落測(cè)試的目的：

用于模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運(yùn)過(guò)程中可能自由墜落，檢查產(chǎn)品的抗意外沖擊能力，即評(píng)估貨物外包裝運(yùn)輸過(guò)程中的抗墜落能力。該實(shí)驗(yàn)通常用于墜落試驗(yàn)機(jī)。

跌落試驗(yàn)原理：

當(dāng)包裝箱，包裝帶輪，當(dāng)產(chǎn)品從某個(gè)高度下降并與下降區(qū)域的地面接觸時(shí)，會(huì)受到很大的沖量，從而導(dǎo)致包裝箱，包裝帶輪，產(chǎn)品在包裝箱中產(chǎn)生瞬態(tài)振動(dòng)和一定位移，包裝帶輪，產(chǎn)品產(chǎn)生較大的應(yīng)力和應(yīng)變，抗跌落能力弱的包裝箱，包裝帶輪，產(chǎn)品會(huì)因跌落而損壞或性能下降。試驗(yàn)結(jié)束后，包裝箱，包裝帶輪，檢測(cè)產(chǎn)品外觀可判斷包裝箱，包裝帶輪，產(chǎn)品抗跌落能力強(qiáng)弱。